EyeTech 簡介

EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度，形成完整的顆粒大小表征。光阻技術（LOT）與視頻分析生成的綜合信息，結果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息，可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合：測量是在單個顆粒上進行的，因此分辨率遠高于傳統衍射法；與傳統其他方法不同，測量系統無需校準，并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。

激光光阻技術

EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度，形成完整的顆粒大小表征。光阻技術（LOT）與視頻分析生成的綜合信息，結果可以顯示在大量的表格和圖表中，可以自定義以顯示所需的信息，可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合：測量是在單個顆粒上進行的，因此分辨率遠高于傳統衍射法；與傳統其他方法不同，測量系統無需校準，并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。

EyeTech Combi 特點

◆ 超高分辨率：可記錄每個顆粒數據

◆ 無水合作用影響：直接測量真實粒徑

◆ 無需額外參數：與物理光學性質無關

◆ 多參數表征：粒徑濃度均可檢測

◆ 測量方法：無需準直或標定更寬的濃度范圍：與其他測量方法相比，

◆ 可檢測更低或更高濃度的樣品

EyeTech Combi 應用

? 精確分析和表征球形，非球形及細長顆粒。

? 同時獲得粒度、濃度和形狀結果

? 模塊化設計適用于一系列干濕應用

? 操作過程中樣品的實時可視化

? 可以分析液體，乳劑，干粉，纖維，磁性顆粒，加熱液體和氣霧劑中的顆粒