美國TSI 3330 美國TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海匯分電子科技有限公司
- 品牌 TSI/美國
- 型號 美國TSI 3330
- 產地 美國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/10/11 9:18:23
- 訪問次數 3027
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| 產地類別 | 進口 |
|---|
儀器簡介：
3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗，本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
技術參數：
測量原則
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制
zui高3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑
檢測粒徑范圍 0.3-10 mm
粒徑分辨率 0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 zui多16通道，用戶可調
主要特點：
- 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
- 粒徑通道用戶可調
- 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，zui多16通道
- 顆粒物粒徑感應范圍：0.5至25 mm
- 檢測濃度范圍：0-3000 個 /cm3
- 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
- *ISO 21501-01/04要求
- 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
- 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
- 電池電量可供20小時的操作
- zui多可存儲30000個數據
- 記錄每個樣品的溫度和壓力
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