等厚干涉實驗儀_光的等厚干涉實驗儀產品介紹：

光的干涉實驗，在光學發展*，證實了光的波動性，由同一光源出發的光，入射到不平行透明物質界面上時，介質上下表面反射的光，在空間相遇就會形成等厚干涉條紋，牛頓環干涉現象是一種的等厚干涉。在實際生產和研究中，人們不但利用牛頓環干涉來進行測長，而且可以利用牛頓環干涉條紋的疏密和是否規則均勻來檢查光學元件、機械表面加工光面的光潔度、平整度，以及半導體器件上鍍膜厚度的測量等。

本實驗裝置是利用FMD6015等厚干涉實驗儀進行光的等厚干涉，測定牛頓環的曲率半徑和劈尖的夾角。

等厚干涉實驗儀_光的等厚干涉實驗儀實驗項目：

1.觀察和研究等厚干涉現象及其特點，加深對光的波動性的認識；

2.利用牛頓環測量平凸鏡的曲率半徑和利用劈尖測量薄片的厚度；

3. 掌握讀數顯微鏡的調節和使用，學習用差數平均法處理數據；

指標：

讀數顯微鏡：讀數范圍：0~50mm；

分度值：0.01mm，放大倍數：30x；

斜視目鏡：45°;反射鏡:45°可調；

增加防滑裝置；

牛頓環：R=1.5~2.0m；劈尖：可調帶框；

鈉光燈：20W，3孔通光；磁性擋光片，升降調節；