泰克TDS1002數字存儲示波器

主要產品參數：

美國泰克（Tektronix） 更*的功能，更簡便的操作！性能概述：

60MHz帶寬、七種型號，zui高采樣速率達1GS/s，詳細資料請在“技術服務”頁面內，技術資料下載中下載；2個獨立通道，8位垂直分辨率；良好的時基系統；靈巧的捕獲方式；強大的觸發系統，使高級觸發功能成為標準配置。完備的測量系統，11種自動測量功能，可選四種參數實時顯示；更多的數學計算功能，標準配置增加FFT算法；菜單模式的 "AutoSet" 功能，讓自動設置也可選，操作更加簡便；可靠的探頭校驗向導；多種語種界面支持，多語種上、下文相關幫助；彩色、單色LCD顯示，多種顯示模式；輕巧、便攜的物理特性；良好的安全特性，標準的電磁兼容性。

應用行業

數字、模擬電路設計、；

教學實驗室平臺；

電力、電子產品制造、測試及維護；

電力、電子產品的品質控制；

技術服務和維修。

輸入輸出接口模塊－TDS2CMAX：

可編程的GPIB（IEEE-488－1987接口），通過接口可控制和設置示波器，進行自動化測量。 □ 可編程RS232接口，通過接口可控制和設置示波器，速度可達19,200bit/s，九針，DTE；標準并行端口（Centronics），用于連接打印機：　打印機類型－Bubble Jet 、DPU-411、DPU-412、DPU-3445、Thinkjet、Deskjet、 LaserJet和 Epson（9 或 24 針）；　打印方向－橫向或縱向。

包含WaveStarTM試用版應用軟件，使用期為30天；

圖形格式：TIFF，PCX，BMP，EPS，RLE；

TDS2000與TDS1000系列存儲示波器訂購信息：

TDS2024、TDS2022、TDS2014、TDS2012、TDS2002、TDS1012、TDS1002主機；

標準附件： 　　　　

TDS2XX2、TDS1XX2- 2 個P2200，10/1 倍衰減，無源探頭；　　

TDS2024、TDS2014- 4 個P2200，10/1 倍衰減，無源探頭。　　

電源插頭標準插頭：　　

AC選項－中華人民共和國標準電源插頭240V、50Hz（161-0304-00）；　　

－美國標準電源插頭120V、60Hz（161-0066-00）；　　

說明書：使用手冊（中文簡體）、前面板中文標簽。　　

可追溯的MIN/NIST校準證書。　　

保修信息：非人為損壞前提下，主機保修期三年，探頭保修一年，包括所有人工和部件；

可選附件：　　

TDS2CMA －通訊接口模塊，包括用戶手冊和程序設計手冊，不包括I/O線纜。　　

GPIB：1 米(3.3 英尺)-訂購號012-0991-01 。　　

GPIB：2 米(6.6 英尺) -訂購號 012-0991-00 。　　

RS-232：調制解調器用 9 針插孔至 25 針插頭連線、4.6米（15 英尺）訂購號（012-1241-00）；　　

RS-232,計算機用 9 針插孔至 9 針插孔零調制解調器連線，訂購號 012-1379-00 。　　

RS-232,計算機用9針插孔至25針插孔零調制解調器連線，訂購號012-1380-00 。　　

RS-232,打印機用9針插孔至25針插頭零調制解調器連線，訂購號 012-1298-00 。　　Centronics ：并行打印機接口用25針插頭至36針Centronics纜線，2.4 米（8 英尺），訂購號012-1214-00。　　

RM2000 －機架安裝工具箱。　　

檢修手冊 －英文版，（071-1076-00）；　　

程序設計手冊 －英文版（TDS200 、TDS1000 和TDS2000 系列數字存儲示波器）只提供（071-1075-00 ）；　　

操作培訓組件 －提供內容廣泛的說明和循序漸進的實驗練習課程，旨在指導用戶學習使用 TDS1000 和TDS2000 系列示波器。這套組件包括一張光盤（里面有用戶可自定學習進度的說明書）以及信號源板卡（TNGTDS01）。硬拷貝說明書為選項，需另行訂購。　　

AC220 －攜帶儀器用的軟殼箱； 　　

AD007 －GPIB與LAN的轉接口；　　

WaveStar™示波器軟件 － Windows 95/98/NT 4.0 以上版本應用程序，用于在個人計算機上進行波形捕獲、分析、文件編制和控制。　

探頭選件：　　

P5205 －1.3 kV，100 MHz 高電壓差動探頭。　　

P5210 －5.6 kV，50 MHz 高電壓差動探頭。　　

P5100 －2.5 kV，100x 高電壓無源探頭。　　

P6015A －1000×AC高壓無源探頭。

TCP300 －電流測試系統。

TCP400 －電流測試系統。　　

AM503S －電流測試系統。