JFD-2000 膜厚測(cè)試儀|非接觸膜厚儀專業(yè)供應(yīng)
- 公司名稱 東莞市嘉儀自動(dòng)化設(shè)備科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) JFD-2000
- 產(chǎn)地 東莞市東城區(qū)主山上三杞工業(yè)大道立洲科技園3號(hào)樓501
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2017/3/8 11:36:15
- 訪問(wèn)次數(shù) 1031
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東莞市嘉儀自動(dòng)化設(shè)備科技有限公司，主要研發(fā)自動(dòng)化設(shè)備，X光檢測(cè)設(shè)備，智能相機(jī)。公司主要產(chǎn)品有：SMT點(diǎn)料機(jī)/SMT計(jì)數(shù)器，鋰電池極片在線密度測(cè)量，鋰電池極片在線測(cè)厚儀，鋰電池極片缺陷檢測(cè)，X光圖像識(shí)別，智能相機(jī)，微型光譜儀，透過(guò)率檢測(cè)，膜厚檢測(cè)儀等。公司全自動(dòng)SMT點(diǎn)料機(jī)在多個(gè)廠商受到好評(píng)，為客戶節(jié)約了大量成本。東莞市嘉儀自動(dòng)化設(shè)備科技公司的誠(chéng)信、實(shí)力和產(chǎn)品質(zhì)量獲得業(yè)界的認(rèn)可。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導(dǎo)和業(yè)務(wù)洽談。
SMT點(diǎn)料機(jī)，鋰電池測(cè)重設(shè)備，鋰電池測(cè)厚設(shè)備，X光圖像識(shí)別，智能相機(jī)，微型光譜儀，透過(guò)率檢測(cè)，膜厚檢測(cè)儀
JFD-2000是一臺(tái)非接觸式膜厚檢測(cè)儀，采用光學(xué)干涉的原理檢測(cè)膜厚。可以測(cè)量同時(shí)可測(cè)干膜和濕膜。檢測(cè)范圍為0.5微米-100微米。
膜厚測(cè)試儀使用中的一些注意事項(xiàng)：
1.基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2.基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，進(jìn)行校準(zhǔn)后，可以測(cè)量。
3.邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
4.曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
5.讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
6.表面清潔度
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