公司介紹

美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學儀器業(yè)務.DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應用于在原濃分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學參數(shù)、固體含量、孔隙率、包括CMP漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應用于多孔固體。

利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進行測量。

傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進行其它的樣品處理，既費時又容易出錯，而多頻電聲技術則可避免這些問題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位，允許樣品濃度高達50％（體積）。Zeta Probe 結構設計緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到很好分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進行自動校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。 

固體孔隙率測定儀

• 包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
• 包括高頻電導率探頭，可以通過方法測量孔隙率
• 通過電聲電振法可以測量多孔材料的表面zeta電位
• 在用膠體振動電流 (CVI) 方式測定原濃體系的zeta電位時,輸入電導率值可計算雙電層厚度及粒子表面電荷密 度