X光檢查在PCB及半導體行業中被認為是zui關鍵的測試步驟。在當今的封裝設計中發現缺陷是非常重要的，因此，X光系統必須在不同的觀察角度能夠提供高分辨率、高放大倍率和高對比度的圖像。
在評定一臺X-Ray時，檢測速度的快慢和用戶友界面是否友好都是*的。
DAGE XD7600 XiDAT系列X光機安裝的軟件版本為具有圖像引導功能的DAGE11。該軟件使用方便，具有進行亞微米級的觀察、自動檢測、動態的波動分離、圖像抓拍、zui友好的用戶界面等優勢。
該設備是標準的配置，能夠提供實時的高質量數字式的X光圖像，圖象的分辨率和灰階都有很大程度的增強，zui大可達70度的傾角觀察。
儀器介紹
X光測試儀設計滿足PCB和半導體工業的增長需求，用戶可以輕松獲取高質量、高放大倍數和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管（Open Tube）技術，在放大倍數方面遠遠超過了采用閉管（Closed Tube）技術的X光檢測儀達到亞微米級，能滿足客戶更高精度的需求。
觀察右下方的照片，你可以對該儀器在PCB和半導體行業的應用有一個大概的了解。在對物體需要進行幾百甚至幾千倍的放大觀察時， 你一定需要該機器的協助！在制造業向生產更精巧，更密集的方向發展時，該儀器就顯得*，進一步的具體應用，請與我們聯絡！

主要特點
DAGE7500 VR X光無損檢測系統  
主要特征：
-zui小分辨率：950納米（0.95 微米）；
-影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
-圖像采集:1.3M萬數字CCD；
-zui大檢測區域面積: 18”x 16”（458 x 407 mm）；
-zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”（508 x 444mm）；
-系統zui大放大倍數: 至5650X；
-顯示器: 20.1"（DVI interface）數字彩色平板LCD,（1600 x 1200PIXELS）；
-安全性: 在機器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等
DAGE7600 NT X 光無損檢測系統
-zui小分辨率: 250納米（0.25微米）；
-影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
-zui大檢測區域面積: 18”x 16”（458 x 407 mm ）；
-zui大樣品尺寸: 20”x 17.5”（508 x 444 mm ） ；
-系統zui大放大倍數: 至 6500 X；
-圖像采集: 1.3 M萬數字CCD；
-顯示器: 20.1"（DVI interface）數字彩色平板LCD,（1600 x 1200 PIXELS）；
-安全性: 在機器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸樣品X光無損檢測系統
Dage XD7800VR或NT是專門用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統。
主要特征：
-zui小分辨率: 950 納米 （0 .95 微米 ）；
-影像接收器左右偏轉角度各70 度（共 140 度），旋轉 360 度；
-zui大檢測區域: 24 ” x 30” （610 x 762 mm ）；
-zui大樣品尺寸: 24.3” x 33” （617 x 838 mm ）；
-zui大樣品重量: 10KG ；
-系統zui大放大倍數: 至 5650 X ；
-圖像采集: 1.3 M 萬數字 CCD ；
-顯示器: 20" （DVI interface） 數字彩色平板 LCD