PGM 200真空紫外光譜儀

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公司名稱 HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌 HORIBA/堀場
型號 PGS/PGM 200
產(chǎn)地法國
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2024/1/23 15:29:08
訪問次數(shù) 2349

產(chǎn)品標(biāo)簽

PGS/PGM 200真空紫外光譜儀可定制微型光譜儀 TGM300真空紫外光譜儀 VHR640 1000真空紫外光譜儀 TGS 300真空紫外光譜儀

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公司介紹 主營產(chǎn)品

HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部（HORIBA Scientific）隸屬 HORIBA 集團(tuán)，致力于為用戶提供先進(jìn)的檢測和分析儀器：包括元素分析、熒光、刑偵、ICP、粒度表征、激光拉曼光譜、橢圓偏振光譜、油中硫分析、水質(zhì)和XRF等分析儀器。

結(jié)合旗下的技術(shù)優(yōu)勢，包括擁有200多年發(fā)展歷史的光譜制造技術(shù)Jobin Yvon,以及擁有*技術(shù)優(yōu)勢的IBH, SPEX, Instruments S.A, ISA, Dilor, Sofie, SLM以及 Beta Scientific等。今天，HORIBA Scientific 的各種檢測分析儀器已經(jīng)遍布各地，并在中國實(shí)現(xiàn)了銷售和服務(wù)的本土化，位于上海、北京、廣州三地的產(chǎn)品專家、售后服務(wù)團(tuán)隊以及全國各地的代理商機(jī)構(gòu)可充分保障國內(nèi)用戶的技術(shù)咨詢以及售后服務(wù)需求。

展開

HORIBA歐洲總部

詳細(xì)信息 在線詢價

產(chǎn)品簡介

PGS/PGM 200光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計，可實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用，配合單通道探測器作為單色儀，配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成，為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計。掠入射光路設(shè)計將可探測波長拓展到4nm，與此同時，攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸，使CCD上接受的光通量zui大化。

真空紫外光譜儀技術(shù)特點(diǎn)
HJY的消像差平面光柵結(jié)合超環(huán)面鏡，同時兼顧高分辨率和低像差。
    在軸設(shè)計，光路易準(zhǔn)直。
    出射光直射CCD表面，光通量大。
    只需更換出射狹縫和法蘭，即可實(shí)現(xiàn)單色儀和攝譜儀之間的切換，一機(jī)兩用。
    支持超高真空10^-9mbar，可接入同步輻射裝置。

典型應(yīng)用
    X射線光電子能譜
    等離子體物理研究
    高次諧波濾波
    紫外反射
    EUV光源表征

真空紫外光譜儀技術(shù)指標(biāo)

三塊標(biāo)準(zhǔn)光柵可選
54401010	1800 gr/mm 光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV) 出射端口色散：0.4-0.68nm/mm 分辨率：0.2nm
54402010	800 gr/mm光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV) 出射端口色散：1.0 – 1.14m/mm 分辨率：0.3nm
54406010	450 gr/mm光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：16-65 nm (7–80eV) 或 16-103nm (12-77eV) 出射端口色散：1.7–2.7m/mm 分辨率：0.5nm
光學(xué)設(shè)計	HJY平面光柵加超環(huán)面鏡光路設(shè)計
焦長	200 mm
孔徑	f/17
分辨率	低至0.2nm
波長驅(qū)動	步進(jìn)電機(jī)
高真空	10^-6 mbar
真空泵法蘭	DN63 LF
狹縫	測微狹縫
陣列探測器法蘭	DN100CF/ICF152
可選項
狹縫	自動或固定
超高真空	10^-9 mbar，配備DN100CF真空泵法蘭和DN40CF真空計接口

單色儀模式下測得的30.4nm 氦譜線

附件
    前鏡腔，配備兩塊超環(huán)面鏡，實(shí)現(xiàn)光源和單色儀之間的光學(xué)匹配
    后鏡腔，配備兩塊超環(huán)面鏡，實(shí)現(xiàn)單色儀和樣品室之間的光學(xué)匹配
    樣品室，可搭載4塊直徑不大于25mm的樣品
偏振插片
    制冷機(jī)，zui低至4K
    真空泵