KDK-LT-1 高頻光電導少子壽命測試儀
- 公司名稱 北京恒奧德科技有限公司
- 品牌
- 型號 KDK-LT-1
- 產地 北京恒奧德科技有限公司
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/8/21 13:43:56
- 訪問次數 814
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高頻光電導少子壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：KDK-LT-1
高頻光電導少子壽命測試儀用途
用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質量的重要檢測項目。
組成
1.光脈沖發生裝置
重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.高頻源
頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W
3.放大器和檢波器
頻率響應：2Hz～2MHz
4.配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。
測量范圍
KDK-LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ
北京恒奧德科技有限公司
電 話：/51666869/
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