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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>鍍層測厚儀>M1 ORA x-ray 鍍層測厚儀
布魯克
聯系方式:宋女士
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AFM探針 分析儀器 實驗室用儀器
技術規格:
光源高性能微焦斑光管,鎢靶,玻璃窗
電壓、功率40KV、40W
探測器大面積正比計數器1100mm²感應面積
光斑尺寸0.3-1.0mm準直管(出廠時設定)
樣品觀察高分辨彩色攝像系統,放大倍數20-40倍
樣品臺手動剪式樣品升降臺
定量分析基于標準樣品的經驗模型
基于基本參數法的無標準模型
電源:230V/500Hz,100W
尺寸:355×330×330mm
重量:26公斤
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