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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀>High_resolution_Inte 高分辨率激光干涉儀

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High_resolution_Inte 高分辨率激光干涉儀

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激光器,調制器測量,分析設備、光電子器件,光學儀器

高分辨率激光干涉儀

所屬類別: ? 光學/激光測量設備 ? 波前分析儀
所屬品牌:法國Phasics公司

產品簡介

高分辨率激光干涉儀

便攜式、高分辨率、高動態范圍激光干涉儀!

法國Phasics公司超分辨剪切干涉儀(High-resolution Interferometer)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的波前分析儀。法國Phasics公司超分辨剪切干涉儀基于波前分析的四波剪切干涉技術,與傳統干涉儀相比較具有結構緊湊,使用方便,無需標準件,優秀的檢測穩定性,直接測量任意的波前、高分辨率(300x400采樣點),3D顯示等優點。


關鍵詞:干涉儀、激光干涉儀、球面干涉儀、激光平面干涉儀、干涉光刻、傳函儀、白光干涉儀、Zygo、波前分析儀、波前傳感器、邁克爾遜干涉儀、便攜式干涉儀、光學傳函儀


法國Phasics公司超分辨激光干涉儀基于便攜式、高靈敏度、高精度波前分析儀。該激光干涉儀采用四波剪切干涉技術,與傳統干涉儀相比較具有結構緊湊,使用方便,無需標準件,優秀的檢測穩定性,直接測量任意的波前、高分辨率(300x400采樣點)、激光波長覆蓋400-1100nm、消色差、高動態范圍(500um等優點。


法國Phasics公司超分辨剪切干涉儀可用于激光波前檢測、激光強度檢測、等離子體密度檢測、透鏡檢測、高功率激光自適應、光刻機檢測、精密光學元器件檢測、光學系統裝調、鏡頭模組檢測、傳遞函數MTF)檢測等。法國Phasics公司超分辨剪切干涉儀并可實時檢測為客戶提供*化的數據支持。


產品特點:

1、直接測量、無需標準件

圖一、檢測光路


2、高靈敏度(是普通白光干涉儀的8.4倍)、對振動不敏感

圖二 與傳統的干涉儀檢測結果對比


3、三維立體顯示

圖三、波前三維檢測視圖

4、實時顯示澤尼克系數

圖四、多階澤尼克顯示界面

5、傳遞函數(MTF)檢測

圖五、傳遞函數檢測界面

干涉儀應用領域:

  • 激光光束性能、波前畸變、M^2、強度等的檢測
  • 紅外透鏡檢測
  • 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測
  • 光刻機物鏡檢測
  • 大口徑高精度光學元器件檢測
  • 透鏡、鏡頭模組檢測
  • 傳遞函數測量
  • 等離子體密度檢測
  • 高功率激光自適應



產品系列:


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