·一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 
·接觸檢測(cè)功能確保了高速及準(zhǔn)確的測(cè)量 
·每秒10,000個(gè)讀數(shù)和5,500個(gè)源-測(cè)量點(diǎn)記錄到存儲(chǔ)器，提供了更快速的測(cè)試 
·內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器(TSP?)提供非并行系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試，將I-V測(cè)試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍 
·吉時(shí)利2600系列提供寬動(dòng)態(tài)范圍：1pA到10A，1μV到200V 
·TSP-Link?主/從控制架構(gòu)將多臺(tái)2600數(shù)字源表無縫地整合成一個(gè)系統(tǒng)，將其作為獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制 
·免費(fèi)的測(cè)試腳本編輯軟件--Test Script Builder，可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測(cè)試腳本，實(shí)現(xiàn)用戶特定的測(cè)試功能 
·免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件，無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線，易學(xué)易用 
·每個(gè)40W,3A的通道都是獨(dú)立的，從而保證了高度的測(cè)量完整性和配置的靈活性 
·業(yè)界zui高的SMU機(jī)架密度特別適合自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用

吉時(shí)利2602數(shù)字源表給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、極ju性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試。基于初吉時(shí)利2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù)，吉時(shí)利2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。專li的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 (10,000 讀數(shù)/s)，源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) (5,500 點(diǎn)/s)。這種高速的源-測(cè)量能力加上良好的自動(dòng)化特性及軟件工具使得吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。

KEITHLEY2602數(shù)字源表 相關(guān)應(yīng)用:
對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析，包括：
·分立的和無源的元器件 
·雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻 
·三引腳 - 雙極型小信號(hào)晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET)等 
·并行測(cè)試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列 
·簡單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開關(guān)、傳感器
·集成的器件－小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
·模擬IC 
·射頻集成電路(RFIC) 
·應(yīng)用定制的集成電路 
·系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)器件
·光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器 
·上述器件的研發(fā)和特性分析