多功能掃描電鏡，聚焦離子束掃描電鏡，高測全自動掃描電子顯微鏡 

  廣州高測儀器有限公司專業代理泰思肯（美國）品牌的掃描電子顯微鏡（簡稱電鏡），我們做的產品類別有：場發射掃描電鏡，鎢燈絲掃描電鏡，大樣品室掃描電鏡，超級聚焦離子束掃描電鏡，場發射電子顯微鏡，鎢燈絲掃描電子顯微鏡，離子束電子顯微鏡，透射顯微鏡，透射電鏡，透射掃描電鏡，礦物分析掃描電鏡，掃描電鏡（SEM）,有拉曼式生物顯微鏡，我們還有各種齊全的電鏡耗材，歡迎大家前來咨詢！

    電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope），簡稱掃描電鏡（SEM），是電子顯微鏡的一種。掃描電子顯微鏡主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。

【聚焦離子束掃描電鏡GAIA3 XMU/XMH】產品簡介：

    聚焦離子束掃描電鏡GAIA3 XMU/XMH 是一款*由計算機控制的鎵離子源聚焦離子束 - 超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注射系統，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的電子光學性能，清晰的數字化圖像，成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點。基于Windows平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖像采集，可以保存標準文件格式的圖片，可以對圖像進行管理、處理和測量，實現了電鏡的自動設置和其它許多自動操作。

多功能掃描電鏡，聚焦離子束掃描電鏡，高測全自動掃描電子顯微鏡 

【聚焦離子束掃描電鏡GAIA3 XMU/XMH】zui重要的特性：

    具有超高分辨率的單極60度角物鏡；

    無磁場模式用于磁性樣品的觀察；

    高亮度肖特基電子槍可得到高分辨率/高束流/低噪聲的圖像；

    鏡筒中的In-Beam二次電子探測器用于小工作距離條件下二次電子的檢測；

    *的三透鏡大視野光學（Wide Field OpticsTM）設計，提供了多種工作模式和顯示模式，體現了TESCAN專有的中間透鏡（IML）的功能；

    實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing?）技術，模擬和實現電子束優化，可直接連續控制束斑和束流大小；

    電子束減速模式下低電壓可獲取優秀的分辨率(選配)；

    In-Beam背散射電子探測器用于小工作距離的背散射電子成像；

    利于EDX、EBSD分析的理想幾何設計；

    由于使用了強力的渦淪分子泵和機械泵，因而可以快速簡單得到干凈的真空樣品室；電子槍的真空度由離子泵來維持；

    包括電子光學設置和校準的全自動顯微鏡設置；

    完善的軟件用于SEM控制，圖像采集、存檔、處理和分析；多用戶多語言操作界面；

    網絡操作和內置的遠程控制/診斷是TESCAN的標準配置；

    *的3維電子束技術用于獲得實時立體圖像；

    擴展的低真空模式使樣品室真空可達500 Pa，用于非導電試樣的觀察；

    Cobra鏡筒在高束流下具有超高的分辨率和優良的性能；

    *的離子光學差異泵（兩個離子泵）可降低離子散射效應；

    配有高重復性馬達驅動光闌轉換器的聚焦離子束鏡筒；

    標配電子束遮沒裝置和法拉第杯的離子束鏡筒；

    自動FIB切割、信號采集以及3維重構技術（斷層掃描），實現3D EBSD、3D EBIC等集成可視化3維 (選配)；

    FIB銑削或沉積時SEM同時成像（兩個獨立的掃描發生器）；

    刻蝕或沉積過程中FIB局部成像；

    強大的電子束寫入工具，包含大量基本的和高級的、可進行各種工藝參數編輯的對象；

    成熟的SEM/FIB/GIS操作軟件用于圖片的獲取、存檔、處理和分析；多用戶多語言的操作界面。

【聚焦離子束掃描電鏡GAIA3 XMU/XMH】產品參數：

    二次電子圖象分辨率：1.0 nm @ 15 kV

    加速電壓：zui大200nA

    放大倍數：4 × - 1,000,000

    儀器種類：場發射

多功能掃描電鏡，聚焦離子束掃描電鏡，高測全自動掃描電子顯微鏡 

廣州高測公司【聚焦離子束掃描電鏡GAIA3 XMU/XMH】相關儀器：

    美國賽默飛世爾（Thermo Fisher）-尼通：手持式X射線光譜儀

    德國斯派克（Spectro）：直讀光譜儀、便攜式直讀光譜儀

    捷克泰思肯：掃描電鏡，熱場發射掃描電鏡，鎢燈比電子顯微鏡，超大樣品室掃描電鏡，等離子束掃描電鏡

    日本島津（Shimadzu）：EDX Rohs熒光光譜儀、X射線熒光光譜儀、X射線衍射儀（XRD）、工業CT、X射線探傷儀

    美國PE珀金埃爾默公司（Perkin Elmer）：等離子體發射光譜儀（ICP）、原子吸收光譜儀、帶捕集阱頂空進樣器、熱脫附

    美國利曼公司（Leeman Labs）：自動測汞儀、自動液體測汞儀、自動固體測汞儀

    日本日立（Hitachi）：X射線熒光測厚儀

    意大利GNR：全反射X射線熒光光譜儀、殘余應力檢測儀、殘余奧氏體檢測儀