體式顯微鏡 SteREO Discovery.V20

體式顯微鏡 SteREO Discovery.V20技術參數：

1、總放大倍率： 4.7x-1312.5x

2、變倍比為：20：1

3、工作距離為10-253mm，

4、zui大行程：340mm

5、調焦精度：350nm，

6、實際視場范圍：0.18-48.7mm

7、冷光源： 15V150W （ 24V250W）

8、可擴展性：可配圖像分析系統（數碼相機,攝像頭,圖像分析軟件）

介紹：

采用系統控制器（SyCop）和人機交互控制器（H.I.P）控制顯微鏡的所有動作（自動倍數切換，自動聚焦，自動色溫），自動化程度高，操作極為方便、舒適。用于產品的宏觀檢驗,能夠檢驗斷口內的裂紋（擠壓裂紋、淬火裂紋、鑄造裂紋），裂口，縱向裂紋，焊和不良，疏松，氧化膜，氣孔等宏觀缺陷。

圖像質量： 提供zui高反差、zui高襯度、zui高分辨率的三維圖像

光學系統： 標準的escope（CMO）光學原理設計

顯微觀察新技術（蔡司）： 防眩光技術

設計理念： 人機工程學原理, 模塊化設計和開放式結構，保留了所有選擇項，便于日后的升級和功能增強

使用壽命：60年

原產地：德國（國內無合資廠）