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化工儀器網>產品展廳>環境監測儀器>輻射測量儀器>輻射儀/射線檢測儀> GEM60P4-83-HE高純鍺探測器

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GEM60P4-83-HE高純鍺探測器

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北京泰坤工業設備有限公司成立于2006年5月22日。

北京泰坤工業設備有限公司始終堅持熱愛我們的國家,在積極參與推動社會建設發展的前提下,創造企業的效益和輝煌,民富國強企業興一直是泰坤的企業信仰。

泰坤遵循企業發展和社會變化的客觀規律,順應時代的發展大趨勢,泰坤人每天都會提醒自己:在競爭面前機遇是不平等的,在創新面前競爭又是不平等的。以此信條,我們用更加科學的方式經營著一個始終保持活力,始終保持著機遇和創造力的企業。

泰坤自成立以來一直在全球的市場中尋找各個行業的好產品引入中國市場,為中國的廣大用戶提供世界上前沿的技術信息和產品服務;同時,我們不斷的把國內具備競爭力的優質產品推向世界,光大民族自主產品的國際地位我們長期堅持“引進來、走出”的經營戰略,與全球企業和客戶共同分享泰坤發展的繁榮。

泰坤是以工業產品、科研產品為主導的經營性公司,產品主要有:核輻射檢測儀器,混合光子計數X射線探測器,環境分析儀器,數據采集和分析儀,醫療儀器,以及各種探測器,半導體器件,特殊材料等,泰坤長期的和國內、外科研院校,電力能源,石油化工,新材料新能源等相關單位長久的合作。

泰坤一直和瑞士DECTRIS,比利時Umicore,美國ORTEC,捷克GEORADIS,德國Avenir等公司保持非常緊密的合作關系。

泰坤在:“先知先行,厚積薄發”價值觀的驅動下,一直在研究和推進泰坤現在的步伐是為了讓 “未來取代傳統”的經營方針,不斷地獲取、積累更加優質的技術和機遇資源,不斷地加快公司變化的步伐,為泰坤始終保持旺盛的經營能力注入科學的動力源,觸發泰坤高效穩步的發展,實現泰坤人的宏大愿景!


混合像素光子計數X射線探測器,核檢測儀器,高純鍺晶體,伽馬能譜儀等

產地類別 進口 價格區間 面議
儀器種類 能譜儀 應用領域 醫療衛生,環保


GEM60P4-83-HE高純鍺探測器


半導體(高純鍺和Si(Li))探測器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品,不僅是核結構、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具,而且在核電、環境、檢驗檢疫、生物醫學、天體物理與化學、地質、法學、考古學、冶金和材料科學等諸多科學與社會領域得到了越來越廣泛的應用。
四十多年來,ORTEC 探測器種類不斷豐富、性能不斷提高,在探測效率上,能提供相對效率200%的P型同軸探測器、175%效率的P型優化(“寬能”)同軸探測器和100%效率的N型探測器。


一、 探測器機理與各指標的簡要意義

放射性核素產生的γ光子和X射線,其能量一般在keV至MeV范圍。由于其不帶電荷,通過物質時不能直接使物質產生電離,不能直接被探測到,因此γ和X射線的探測主要依賴于其通過物質時與物質原子相互作用,并將全部或部分光子能量傳遞給吸收物質中的一個電子。這種相互作用表現出光子的突變性和多樣性,在吸收物質中主要產生三種不同類型的相互作用:光電效應、康普頓效應或電子對效應,而產生的次級電子(光電子)再引起物質的電離和激發,形成電脈沖流,電脈沖的幅度正比于γ和X射線的能量。三種效應中,光電效應中γ光子把全部能量傳遞給光電子而產生全能峰,是譜儀系統中用于定性定量分析的主要信號;而康普頓效應和電子對效應則會產生干擾,應盡可能予以抑制。
在譜儀中,探測器(包括晶體、高壓和前置放大器)實際上是一個光電轉換器,將光子的能量轉變成幅度與其成正比的電脈沖。然后通過譜儀放大器將該脈沖成形并線性放大,再送入模數變換器即ADC中將輸入信號根據其脈沖幅度轉變成一組數字信號,并將該數字信號送入多道計算機數據獲取系統,由相關軟件形成譜圖并進行分析。


GEM60P4-83-HE高純鍺探測器

以下簡要闡明所涉及的相關物理概念:
1、相對效率、效率與實際效率
相對探測效率(即標稱效率)的定義:按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處,對1.33MeV能量峰,半導體探測器與3"×3" NaI探測器計數率的比值,以%表示。效率:Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處,1.33MeV能量峰處所產生的實際探測效率(3"×3"NaI探測器,此效率為0.12%)。實際探測效率:取決于感興趣核素所在能量峰、探測器的晶體結構、實際樣品的形狀、體積及探測器與樣品間的相對位置關系等因素。
針對低活度樣品的測量,通過提高實際探測效率以提高測量靈敏度是選擇探測器的出發點。
2、 能量分辨率(FWHM):探測器或系統對不同能量γ和X射線在探測中的分辨能力,通常以半高寬(FWHM,全能峰高度一半處所對應的能量寬度)表示。比如對于1.33MeV能量峰,按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義,Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處,在計數率為1kcps時的全能半高寬。由于高純鍺探測器的分辨率本身已經相當精銳,除了在中子活化、超鈾元素分析等少數應用中,能量分辨率已不是首要考慮的因素。更加實際的分辨率問題是在高計數率和計數率動態變化(如中子活化、裂變產物、在線監測、現場測量)情況下,如何保證分辨率盡可能的穩定。
3、 康普頓效應與峰康比
γ光子與探測器中的半導體原子的電子相互作用時,將部分能量傳遞給電子,剩余能量的γ光子以一定的角度散射出去,成為康普頓散射。康普頓效應的結果會導致在低能部分的全能峰下方形成康普頓坪,成為相關能量峰的本底或甚至淹沒此能量峰。
峰康比:對1.33MeV能量峰,指其全能峰的中心道計數與1.040MeV至1.096MeV區間內康普頓坪的平均道計數之比。
4、 峰形
表征全能峰對稱性之指標,通常以FTWH(十分之一全高寬)與FWHM(半高寬)之比表示。為嚴格定義峰形,ORTEC對部分探測器同時提供F.02WH(五十分之一全高寬)與FWHM(半高寬)之比。


二、 ORTEC所有同軸探測器全面嚴格保證能量分辨率、峰康比和峰形指標。
1、ORTEC HPGeSiLi)探測器的分類與特點:
GEM系列: P型同軸HPGe探測器



GEM Profile系列: P型優化同軸HPGe探測器

  • 同一型號的探測器采用相同的晶體結構和尺寸,從而保證了相當*的效率曲線;

  • GEM-M系列:專門設計適用于馬林杯狀樣品的測量,探測器端窗直徑與晶體有效厚度*;

  • GEM-F系列:采用扁平結構晶體(直徑>長度),對于濾紙、濾膜等薄層樣品的測量能獲得的實際探測效率;

  • GEM-FX系列:有著-F系列類似的晶體結構,但采用超薄的接觸極和碳纖維端窗,能量響應范圍10keV10MeV;還可作為超鈾元素測量的理想選擇;提供15%20%50%三種探測效率選擇;

  • GEM-MX系列:結合-M-FX工藝,能量響應范圍10keV-10MeV,尤其適合于馬林杯狀樣品;提供38%, 66%115%175%四種效率選擇;

  • GEM-FXGEM-MX在整個10keV10MeV(“寬能”)的能量范圍內都有十分優異的能量分辨率,從指標與實用意義上實現了傳統P型與N型探測器的“優勢組合”。

Actinide-85: 肺部計數HPGe探測器
采用GEM-FX8530探測器工藝,用于肺部計數探測器;采用超低本底冷指材料和整體碳纖維封裝結構。

SLP系列: X-射線Si(Li)探測器:
用于X-射線能譜測量;能量響應范圍1keV至30keV;有效面積12.5至200mm2

對于700keV以下的能量峰,120cc體積的井式探測器已能很好的滿足探測效率的要求,增大探測器體積并沒有太多的實際意義。


2、探測器的附屬選項及其意義




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