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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>超聲波測厚儀>MiniTest400A 德國EPK超聲波測厚儀

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MiniTest400A 德國EPK超聲波測厚儀

參考價 12500
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

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      深圳市泰立儀器儀表有限公司成立于2005年,無損檢測儀器配套方案提供商,專業從事:磁導率測量、電導率測量渦流漏磁、超聲、射線、金相、光譜、材料檢測...測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務工作。并與國外杰出儀表生產廠商有著廣泛的技術與銷售合作的良好基礎。德國FOERSTER霍釋特、德國NewSonic、德國Optisense、以色列 ScanMaster、美國Dakota達高特、英國SONATEST聲納、英國ETHER NDE易德、美國GE通用、等公司的中國區銷售代理。產品廣泛應用于工業、電子、半導體、太陽能、醫藥、能源等各個領域,并服務于各大企業、院校、研究所、檢測機構及政府部門等。







超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,超聲波相控陣探傷儀,電導率儀,磁導率儀,汽車車身點焊檢測儀,COMET工業射線機,工業內窺鏡,工業CR/DR數字射線系統,熱分析儀

產地類別 進口 價格區間 5千-1萬
應用領域 航天,汽車,電氣,綜合 測量范圍 0.8-300MM

德國EPK超聲波測厚儀MiniTest400A


高精準超聲波測厚儀/高阻抗雙晶探頭
脈沖-回波方式 量程達0.65-400mm
回波-回波方式(透過涂層測量) 量程達3-25mm
堅固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實驗室及工業現場使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機械、化工、電力、原子能等各工業部門的產品檢驗。

MiniTest 400系列是德國EPK公司推出的型超聲波測厚儀。該系列產品具有使用簡便,速度快,可靠性高等特點。


 

超聲波測厚儀具有MiniTest 400全部功能外,新增了下列功能:
探頭自動識別
開機自動校零
預置9種常用材料聲速值
數據分組
USB接口上傳
聲速測量
設限測量
zui小值測量
差值測量

配置:
儀器主機
帶連接電纜的探頭一支
耦合劑(75ml)
2節5號電池
塑料手提箱
中英文說明書
保修卡

可選配置
階梯試塊,通訊電纜,通訊軟件,高溫探頭等。


 

德國EPK超聲波測厚儀MiniTest400A技術參數:

 400400A400B
顯示信息測量值,聲速值,探頭型號,電池電量,當前數據組
測量范圍回波-回波測量:3mm-25mm                               
發射-回波測量:0.65mm-400mm(不同型號探頭決定不同測量范圍)
示值精度小于99.99mm時為0.01mm;大于100mm時為0.1mm
單位公制/英制
聲速范圍1000m/s - 9999m/s,
增益自動 
手動  
聲速測量確定未知聲速材料的聲速,預置9種常用材料聲速值 
探頭識別自動識別探頭 
零位校準開機自動零位校準 
測量模式發射-回波模式標準測量:滿足常用的檢測要求
zui小值測量:滿足曲面或需要選擇zui小值的測量環境 
差分測量:顯示實際測量值與設定標準值的差值 
平均測量:提供2-9點的測量平均值 
上下限測量:極限報警 
回波-回波模式透過涂層測量基體厚度  
快速掃查模式適用于高溫或需要提高測量速度的測量環境,每秒10次的測量,可以同時顯示測量中的zui大值和zui小值 
數據存儲1組2000個數據  
10組5000個數據,動態分配 
數據輸出USB接口,通過USB接口上傳儀器中存儲的數據到計算機 
關機選擇可選擇2分鐘,5分鐘自動關機或選擇不自動關機 
外形尺寸130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
重量約190g
工作溫度-20至50攝氏度
電池兩節5號電池,電量顯示,電量不足報警
工作時間不間斷測量不少于80小時
顯示屏128×64 背光


可選探頭:

型號晶體直徑頻率測量范圍工作溫度 
EP8E8MM5.0MHZ4-25MM(E-E)
0.8-300MM(T-E)
-12-+60℃400B*探頭,具有透過涂層測量模式
EP44MM10.0MHZ0.65-20MM-12-+60℃小管徑探頭
EP66MM7.5MHZ0.7-50MM-12-+60℃主要用于薄壁及小弧面的測量.
EP88MM5.0MHZ0.8-350MM-12-+60℃標配探頭,主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。
ECP1212MM2.0MHZ2.0-400MM-12-+60℃粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質的測量.
EHP1313MM5.0MHZ3.0-200MM-12-+350℃高溫探頭,主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量,
注:測量時晶體與被測高溫物體的接觸時間不得大于5S.

 



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