二次離子質譜概述

1. 一定能量的離子打到固體表面會引起表面原子、分子或原子團的二次發射，即離子濺射。濺射的粒子一般以中性為主，其中有一部分帶有正、負電荷，這就是二次離子。利用質量分析器接收分析二次離子就得到二次離子質譜。根據濺射的二次離子信號，可對被轟擊樣品的表面和內部元素及分布特征進行分析。
2. 二次離子質譜儀主要用于材料學（半導體、薄層、絕緣材料等）、地質空間學、天體化學、環境微生物學和細胞學。
3. 主要功能：

               質譜分析-表面微區元素組成

               痕量元素深度剖析

               二次離子成像及顯微圖像分布（2＆3D）

               穩定同位素豐度比

               放射性顆粒分析

               地質定年

大型二次離子質譜 IMS 1280-HR

1. 針對地質領域和環境科學分析專門而設計、注重原位分析
2. 具有超高的靈敏度
3. U-Pb地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器

     K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection)

     Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection)

     Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection)

     Li-U區間元素快高精確度同位素豐度比測量

大型二次離子質譜性能優勢

1. 靈活多用的多接受系統，尤其適于用于同位素分析。
2. 兩種具有反應活性的的一次離子源，在數據采集的同時可對其進行監控。
3. 具有高度再現能力的樣品臺。
4. NMR高分辨磁場控制。
5. *的圖像功能。
6. *計算機化自動工作，可遠程監控。
7. 通過加入一個新的六極靴，對耦合進行了重新設計，減少了軸上二次畸變。
8. 多接受模式下，峰形得到很大的改善。
9. 優化了真空以降低背底，有利于探測輕元素，氫化物。

在單接受模式以及高質量分辨率下，通過靜電壓跳峰，提高了穩定性。