高溫老化室GW-165[貝爾實驗室裝備]

　高溫老化室是針對高性能電子產品（如：機算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備、是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程，該設備廣泛應用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領域。

*：設備規格及滿足標準
1.內箱尺寸D3000mm×W2200mm×H2500mm
2.外形尺寸D3500mm×W2600mm×H2700mm
3.門洞尺寸 W2200mm×H2500mm

滿足試驗標準 GJB 150.3-1986 高溫試驗
GB/T2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備

第二：技術參數 
1.溫度范圍 ：RT+20℃～+300℃
2.溫度波動度 ：±0.5℃（恒溫時，既設備在穩定狀態下，工作空間中心點 溫度隨時間的變化量，即中心點在30min內（每30s測試一次）實測zui高溫度與 zui低溫度之差的一半，以“±”表示，即溫度波動度℃）
3.溫度均勻度： ±2.5℃（RT+20～180℃時在距試驗箱壁1/6尺寸布點檢測,即設備達 到穩定后，在30min內（每30s測試一次）每次測試中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術平均值，即溫度均勻度）.
4.溫度沖高：≤3℃(程控時)