供應(yīng)原子力顯微鏡 XN-10
- 公司名稱 廣州佳睿科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
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供應(yīng)原子力顯微鏡 XN-10具備高速的伺服響應(yīng)能力,超高的掃描器線性度,極低的閉環(huán)檢測器噪聲水平,和zui小的系統(tǒng)熱漂移量。作為一款界面友好,操作簡單的儀器,NX-10會成為新老用戶的好伙伴。
供應(yīng)原子力顯微鏡 XN-10主要特點(diǎn):
一、計(jì)量精確
XE系列AFM*消除了球面誤差,因而具備了實(shí)現(xiàn)精確納米計(jì)量的能力。
二、掃描器線形度高,直角正交
XE系列AFM采用了柔性掃描器zui大限度減小了X和Y掃描運(yùn)動(dòng)的交叉耦合,并且通過位移傳感器及時(shí)進(jìn)行反饋控制,這就有效保證了掃描的準(zhǔn)確度和精度。
三、非接觸式掃描
可真正實(shí)現(xiàn)非接觸式掃描是Park AFMzui顯著的技術(shù)優(yōu)勢。采用這一模式掃描時(shí),針尖和樣品間距可以保持在幾個(gè)納米,在避免針尖磨損的同時(shí)提高了成像質(zhì)量。
四、CrN樣品測試結(jié)果
CrN樣品具有點(diǎn)狀尖銳的特點(diǎn),是常用的AFM探針性能測試樣品。如采用輕敲模式進(jìn)行掃描,10次后圖像質(zhì)量就因針尖磨損而明顯下降。在非接觸掃描實(shí)驗(yàn)中,掃描100次后圖像細(xì)節(jié)依然清晰,證明針尖沒有受到損傷。