供應原子力顯微鏡 XE-100
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- 公司名稱 廣州佳睿科學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2018/5/14 9:00:00
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供應原子力顯微鏡 XE-100可以實現精確的納米計量和無損檢測。新增的多區域自動掃描功能,更是*的提高了檢測效率。該系統可廣泛的應用于材料科學、聚合物、電化學等諸多領域。近年來,Raman HR-800和XE-100的聯合系統更是幫助VLSI開拓出了對100納米以下硅微結構進行機械性能分析的新天地。
供應原子力顯微鏡 XE-100技術參數(機械部分):
1. XY掃描器:50µm×50µm(閉環),可選配100µm×100 µm(閉環)
2. Z掃描器:12µm (可選配25µm)
3. 水平度:50µm線掃描垂直偏差不超過±1nm
4. XY和Z掃描器的正交性:1.0°
5. 樣品臺移動范圍:25mm×25mm(X/Y),27.5mm (Z)
6. 樣品尺寸:100mm×100mm
7. 光學觀察:垂直光路設計,可直接觀察微懸臂和樣品
技術參數(電子部分)
1. 微處理器:600MHz,4800MIPS DSP
2. 模數/數模:16位,500kHz采樣頻率
3. 圖像采集:同步自動采集16幅圖像,分辨率高達4096×4096像素
4. 通訊方式:采用基于TCP/IP協議的通訊方式與計算機聯接
5. 符合CE認證標準