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| 產地類別 | 進口 |
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測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量"范圍內提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。
產品簡介
詳細介紹
馬爾MarSurf M400簡便易用的便攜式粗糙度測量儀
測量室以及生產領域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員，更多時間和更多調整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量”范圍內提供了必要的功能，而且快速、簡單易用。
- 移動和固定測量儀器
- 粗糙度和波紋度測量
- 掃描長度高達 26 mm
- 超過 50 R，W 和 P 表面參數
- 根據標準自動選擇截止和掃描長度
- 動態校準功能
- 驅動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
- 磁性測頭支架（獨立測頭）BFW 250
- 機動測頭歸零設置（最大 7.5 mm）
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測量原則 | 探針法 |
|---|---|
輸入 | BFW 無導塊系統 |
測量范圍 mm | +/- 250 µm（高達 +/- 750 µm，3x 測桿長度） |
輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm：8 nm |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波 |
采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
測量力 (N) | 0.75 mN |
重量驅動單元 | 約 0.9 kg |
重量測量儀 | 約 1.0 kg |
表面參數 | 超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W |