NanoMap-500LS 三維輪廓儀（接觸式）
| 參考價 | ￥ 370000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 aep technology中國辦事處
- 品牌
- 型號 NanoMap-500LS
- 產地 美國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/3/22 7:33:35
- 訪問次數 1127
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三維輪廓儀（接觸式）NanoMap-500LS
利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術，并與壓電陶瓷（PZT）掃描*結合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學拋光平臺，有效解決了以往樣品臺掃面，由于絲杠公差引起的測試結果有亞微米量級的誤差。
三維輪廓儀NanoMap-500LS主要應用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
三維輪廓儀NanoMap-500LS熱噪聲是同類產品zui低的。垂直分辨率可達0.1 nm 可測跨學科、跨領域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料（金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…）；
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