產品信息：

本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。

應用領域：

環保ROHS檢測，鹵素分析，玩具八大重金屬測試

貴金屬（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相關制品的生產、銷售、回收的檢測；

用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析等。

功能：

經驗系數法和基本參數法相結合

測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求

安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標

測試操作簡單，實現傻瓜式操作模式

報告模板多樣化，適應各種測試需求

器參數：

分析元素種類：26種元素可同時分析

分析方法：基本參數法（定量）

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：約48Kg

工作環境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）

工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

標準配置：

探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm²；Be窗厚度為1mil

壓電源：壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩定性0.05%

X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）

清攝像頭裝置

定位裝置

自動開蓋裝置