SediGraph全自動Χ光沉降粒度分析儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

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久經考驗的技術和可靠性

在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室，SediGraph憑借其可靠性得出測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

• 產品應用

• 軟件和數(shù)據(jù)報告

• 應用筆記、文獻和參考目

• ASTM 方法

智能設計特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性的結果。

• 簡化泵系統(tǒng)，確保快速分析和易于維護

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護提醒裝置，根據(jù)總測試量，提示用戶進行定期維護

• 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性

• Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯(lián)網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報告系統(tǒng)，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

全自動Χ光沉降粒度分析儀多項功能