原子力顯微鏡

晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復雜光路調整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進行納米結構的成像和分析。
使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學工作者無需等候獲得掃描的納米結構圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機構也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術的研究、發展和工藝控制節省大量的成本。
晶體掃描儀在納米牛頓力測量領域內注入了新的設計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當配合點和掃描(Point & Scan TM)技術，將大大簡化儀器的操作過程。

點和掃描技術
點和掃描技術大大減少了傳統系統軟件的復雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實驗人員便可以在計算機屏幕上看到圖像。
點和掃描技術使用標準的納米成像操作步驟。步驟如下：

• 選擇樣品類型；

• 將樣品放置于顯微鏡下；

• 如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；

• 選擇要掃描的樣品區域；

• 成像操作。

上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導體器件結構以及對納米管、納米粒子和納米晶體進行高分辨的納米成像。
點和掃描技術包括3個方面的創新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和高級軟件。

• 晶體傳感器

晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調整。

圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上

• 測試臺自動化

*的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結合馬達驅動的光學系統、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調整。因此，便可以實現“放置樣品-設定掃描區域-開始掃描”的簡單操作過程。

• 晶體掃描軟件

晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實驗人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關樣品類型的信息可存儲在計算機內，需要時可調用。例如，CSS可以使用設置的掃描參數。CSS與測試臺自動化的相結合是一個強有力的工具。舉例來說，當運行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進一步設置成適于視頻光學記錄的位置。
實驗人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。
圖3軟件接口

CSS軟件的高級算法可用來判斷探針的成像質量和優化掃描參數。對某些特殊的樣品，這些高級算法的運用可設計成樣品信息文件。

*的掃描儀設計
使用移動探針的*彎曲壓電掃描儀設計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量zui小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。
外置的x、y、z軸校準傳感器可監視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術參數如表1。
表1? 晶體掃描儀的技術參數

與光杠桿傳感器的切換
常規的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機構較為復雜且需要調光路，但也有一些優點。其主要優點是：可以進行材料敏感模式的測量，如側向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進行磁力和靜電力成像。
Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進行接觸或振蕩模式的形貌像測量。

應用
使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業樣品和需要高分辨成像的納米結構的形貌像。工業樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結構包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。