X’Pert Pro是帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）于本世紀推出的新一代X射線衍射儀，其主要特點是多功能、模塊化，即光學預校準的模塊化設計，使各個功能模塊能夠任由用戶隨意更換，并且在幾分鐘內即可構造成一種功能化的光路布局，從而使多功能應用終于能夠在一臺儀器上實現，如常規相分析聚焦光路模式、平行光路模式、微區測量模式等。儀器還可以進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。

1  儀器基本系統上的新技術 
    1.1 陶瓷X光管 
    帕納科公司（前飛利浦公司分析儀器部）設計的新型陶瓷X光管，可使用戶在如下三個方面得到zui大的收益： 

     (1) 重量輕：可在θ-θ型測角儀上得到過去只有在θ-2θ測角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測角儀上從事松散裝填樣品，液晶樣品，液－固相變和高溫樣品的測試（而此類樣品若在θ-2θ測角儀上是無法完成的）。     

    (2) 壽命長：采用設計的較以往的X光管可使工作溫度降低，延長X光管的使用壽命。 

    (3) 準確光學定位：由于陶瓷可精確機加工，因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過精機加工進行準確光學定位，這也是預校正光路的模.塊化得以實現的前提。(此項技術為飛利浦公司*技術） 

   1.2   DOPS（直接光學定位系統） 
    采用此項技術，可使測角儀定位精度提高一個數量級，并可克服以往步進馬達和齒輪轉動技術因齒輪磨損而造成測角儀的角度誤差，可保證測角儀在多年使用后仍保持準確的角度測量。    

2.    zui快的聚焦光路探測器:X’Celerator超能探測器 
    X’Celerator新型超能探測器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計數率提高100倍，因此靈敏度得到大大提高，甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測器下得到很強的信號。從另外一個方面說，在得到相同的譜圖質量的前提下，可減少錄譜時間100倍，對完成動態反應和相變實驗極為有利。X’Celerator 超能探測器亦采用 帕納科公司*的 PreFIX 預校準模塊化設計，能方便地與其他光學模塊或探測器進行互換。 

3.    *的FPX模塊……即預校準光路的模塊技術 
    3.1  所有光學模塊在出廠前均經過光學預校準，在用戶現場安裝或更換光學模塊時，操作方便，無需校準光路,整個過程可在兩分鐘內完成。 

    3.2  入射光路，接收光路和樣品臺均采用模塊化設計, 可進行快速更換, 更換時間不超過5分鐘。 

    3.3  因此在多用途的X衍射研究工作中，唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能，例如：聚集光路，平行光路，不同樣品臺，正比計數管和PSD等以zui快的速度（不超過10分鐘）更換且不用重調光路，zui大限度地發揮了各種功能的作用，大大提高了研究工作的效率，而且由于預校準光路，功能更換后立即可進行測試，并且一種模塊被再次換上后能保證測試數據*重合。 

    3.4    儀器出廠后十年內發展的新光學技術都制成與之配套的模塊,  為儀器的可持續發展提供了一個良好的平臺。 

4.    新型光學模塊 
    由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學模塊，提高了光的利用效率  ( 例如平行光路提高30－50倍)。 在不增加光管功率的前提下，大大提高了強度，可使用戶在低消耗、高效率下完成許多困難樣品的測試。