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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>電化學分析儀>石英晶體微天平>QSense Explorer 石英晶體微天平Q-Sense Explorer

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QSense Explorer 石英晶體微天平Q-Sense Explorer

參考價 1000000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 瑞典百歐林科技有限公司
  • 品牌 Biolin/瑞典百歐林
  • 型號 QSense Explorer
  • 產地 瑞典
  • 廠商性質 其他
  • 更新時間 2023/8/4 9:58:21
  • 訪問次數(shù) 1362
產品標簽

石英晶體微天平

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


   瑞典百歐林科技有限公司是一家*科研儀器生產商,在北歐的瑞典,丹麥和芬蘭都有主要產品的研發(fā)和生產基地。我們?yōu)橛脩籼峁└呖萍肌⒏呔鹊目蒲性O備,可用于表界面、材料科學、生物科學、藥物開發(fā)與診斷等研究領域。
   我們同時專注于用戶的技術和應用支持,以及科技的發(fā)展與進步。我們的產品均基于*的測量技術,而這些技術,或為我們,或為我們*,或在*科研與發(fā)展中占主導地位。我們的核心戰(zhàn)略是,通過尋找具有廣闊商業(yè)前景的科研領域,來應用我們的產品與技術。我們的現(xiàn)階段包含三大產品線:

QSense:用于研究大分子界面以及相互作用的分析儀器

QSense耗散型全自動八通道石英晶體微天平;

QSense四通道石英晶體微天平QCM-D

QSense Explorer單通道擴展版QCM-D

QSense Initiator單通道基礎版QCM-D

KSV NIMA:單分子層薄膜的構建與表征工具

LBLangmuir-Blodgett)膜分析儀;

氣液、液液/氣固界面上有序單層和多層結構的組裝和表征

布魯斯特顯微鏡;

無損實時監(jiān)測空氣/水界面處分子層的圖像

界面剪切流變儀;

高靈敏度測量液體界面處的流變性能

浸漬鍍膜機;

無振動,可程序控制的固體樣品浸漬方案

界面紅外反射吸收光譜儀

用于薄膜和漂浮的單分子層膜的*的表面光譜方法

Attension:界面科學與材料技術所用的表面張力測量設備

光學接觸角測量儀/表界面張力儀 Theta/Theta Lite/Theta QC光學接觸角測量儀

力學法表界面張力儀Sigma 700/701/702/702ET/703D表/界面張力儀

   主要的客戶來自于學術機構、科研單位以及企業(yè)研發(fā)部門。在科研領域,用戶使用我們的儀器作為分析工具,以更好地開展基礎或應用研究,獲取和發(fā)表優(yōu)異的科研結果。在工業(yè)應用領域,分析儀器同時用于基礎研究和質量控制過程。我們的主要工業(yè)用戶均為各領域性的*。目前,百歐林的用戶已遍布70多個國家和地區(qū)。

中國代表處:

邊長8cm 掃描距離0.5m.jpg

上海市浦東新區(qū)商城路800號斯米克大廈1125室
電話 86 21 6837 0071/68370072
info@biolinscientific.com


石英晶體微天平,光學接觸角測量儀,表面張力測量儀,薄膜制備與分析儀器,離子通道,膜片鉗

價格區(qū)間 10萬-20萬 儀器種類 進口
應用領域 化工

石英晶體微天平QSense  Explorer


**********儀器簡介**********


QCM-D技術的核心是石英晶體傳感器,它由石英晶體夾在兩片電極中間形成三明治結構。在電極兩端加入一個交流電壓,在傳感器的共振頻率處引發(fā)一個小的剪切振動,當交流電壓關閉后,振動呈指數(shù)衰減,這個衰減被記錄下來,得到共振頻率(f)和耗散因子(D)兩個參數(shù)。

對于薄層硬質薄膜,可以使用Sauerbrey關系和公式,根據(jù)傳感器振動計算吸附層的質量。當沉積的薄膜松散和粘性時,能量通過薄膜上的摩擦被消耗,傳感器的振動發(fā)生衰減,耗散因子提供了傳感器上吸附的薄膜的結構信息。通過使用多個頻率和耗散因子數(shù)據(jù),使用粘彈性模型而非Sauerbrey關系,我們可以計算得到質量(mass)、厚度(thickness)、粘度(viscosity)和彈性(elasticity)。


越來越多發(fā)表的科學文獻證明了QCM-D系統(tǒng)的技術可靠性。該技術的核心是石英晶體在負載電壓下以一個特定頻率振蕩。當晶體上的質量改變時,振蕩的共振頻率也會隨之變化。通過這種方法,可以在納克級靈敏度上測定質量變化。這種*的QSense 設計可以同時測量耗散因子,從而提供薄膜的結構和粘彈性信息。它可以提供諸如吸附膜的分子結構、厚度、水含量的信息。此外還可以檢測反應前、進行中和結束后的表面吸附層的變化。耗散因子是指當電路斷開后震蕩的晶體頻率降低到0的時間快慢。任何可在芯片上形成薄膜的物質都可以進行免標記測試,這些物質包括聚合物、金屬和化學改性表面。實時測試系統(tǒng)每秒可提供高達200個數(shù)據(jù)點。


**********產品優(yōu)勢**********


追蹤表/界面變化


憑借著納克級的靈敏度,石英晶體微天平QSense  Explorer可以精確測量吸附層的質量變化,結構和粘彈性質。它可以區(qū)分兩個相似吸附層,或者觀測相轉變或吸附層的結構變化。不僅如此,兩種類型相似層的吸附,吸附層相轉變或者結構變化,都可以通過QCM-D檢測出來。


實時分析


每秒記錄高達200個數(shù)據(jù)點,QSense 系統(tǒng)可以讓您實時、完整地跟蹤分子的相互作用。


自由的表面選擇


金屬,聚合物,化學改性表面,只要是能在芯片表面上鋪展成薄膜的材料,都可以成為我們的定制芯片涂層。


整體解決方案


QSense 提供易于上手的整體解決方案。 QSense  Explorer系統(tǒng)包括儀器、軟件、電腦和安裝教程。QSense 也提供技術培訓和應用支持。


單通道傳感器系統(tǒng)


緊湊、易用、免標記的單通道傳感器設計保證您進行可靠穩(wěn)定的QCM-D測試,同時具有的可重復性。


可選模塊


可提供如電化學和窗口模塊等附件模塊。


**********儀器原理**********


石英晶體微天平QSense  Explorer是一種檢測吸附在表面上的分子反應機制的實時分析儀器。當分子層在傳感器表面質量發(fā)生變化或者結構發(fā)生改變時, E1可以測量分子層的變化。在材料、蛋白質和表面活性劑等領域的研究中,QSense  Explorer設備起到了關鍵作用。


從快速儀器入門使用,到高質量數(shù)據(jù)分析,QSense  Explorer提供了一套完整的解決方案。儀器為單通道測試模塊,并且該系統(tǒng)提供可選的窗口模塊,可以進行芯片表面即時光學觀測。Explorer系統(tǒng)的緊湊設計同樣可以對芯片上的反應進行光譜研究,如光催化反應(紫外修復)和即時顯微研究(細胞在表面吸附)。我們的產品提供包括硬件、軟件、和讓您可以快速開始研究所需的介紹、培訓以及實驗結果解析。






QSense  Explorer設備基于極其靈敏和快捷的技術,帶耗散因子檢測的石英晶體微天平(QCM-D)。該設備的核心是傳感器在加載電壓的作用下以特定頻率下振蕩。當傳感器上的質量發(fā)生變化時,其振蕩頻率會隨之變化(1)。斷開電路會導致振蕩衰減。衰減速率或者耗散因子與傳感器上的分子層粘彈性有關(2)。通過測定頻率和耗散,QCM-D可以分析吸附在傳感器表面的分子層狀態(tài),包括質量、厚度和結構性質(粘彈性)


**********使用方法**********




**********技術參數(shù)**********


傳感器數(shù)量:1


傳感器上方體積:~40 μL


zui小樣品體積:~300 μL


工作溫度:15-65 °C,由軟件控制,精確度±0.02 °C,可提供高溫模塊,量程4~150°C


常規(guī)流速:0-1 mL/min


清洗:所有與液體接觸元件均可拆卸,并可在超聲波浴中清洗


傳感器晶體:5 MHz,直徑14 mm,拋光,AT切割,金電極


頻率范圍


1-70 MHz (對于5 MHz晶片,從7個頻率到13個泛頻,zui高至65 MHz)


zui大時間分辨率,1個頻率


zui高達每秒200個數(shù)據(jù)點


液相中常規(guī)質量精度與zui大質量精度:~ 1.8 ng/cm218 pg/mm),~ 0.5 ng/cm25 pg/mm


液相中常規(guī)耗散因子精度與zui大耗散因子精度:~0.1*10-6~0.04*10-6


液相典型峰間噪音(RMS):~ 0.16 Hz (0.04 Hz)




**********具體應用領域如下**********

生物材料表面分析

生物傳感器的研究

蛋白質的相互作用

膜表面的吸附/解析

生物膜表面DNA的雜交

酶的降解

聚電解質單/多層膜的研究

細胞在不同表面的吸附

靶向藥物的研究

催化、腐蝕等研究

高分子溶漲、結構改變、等特性的研究

高分子材料的生物相容性等



瑞典百歐林科技有限公司上海代表處




地址:上海市商城路800號斯米克大廈1125


200120


+86 21 68370071/68370072


+86 21 68370073


注:相關資料如有變化,恕不另行通知,瑞典百歐林科技有限公司對資料中可能出現(xiàn)的紕漏免責,更多資料詢問。




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