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公眾號：chem17
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PZ-332C-半導體共面性測量設備2025-05-12
- 所在地：
- 北京北京市
- 公司名稱：
- 北京品智創思精密儀器有限
簡介： 半導體共面性測量設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、......
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DSH系列-雙面探針臺2025-05-12
- 所在地：
- 湖北武漢市
- 公司名稱：
- 邁可諾技術有限公司
簡介： DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺,最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。......
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DCH系列-高低溫真空探針臺2025-05-12
- 所在地：
- 湖北武漢市
- 公司名稱：
- 邁可諾技術有限公司
簡介： DCH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在特殊環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現器件及材料表征的IV/CV特性測試,射頻測試,光電測試等。......
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DM系列-基礎型探針臺2025-05-12
- 所在地：
- 湖北武漢市
- 公司名稱：
- 邁可諾技術有限公司
簡介： DM系列基礎型探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊,設計精密,價格實惠,配置靈活,具有性價比。......
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ZG-SOI芯片光電探測器陣列2025-05-12
- 所在地：
- 四川綿陽市
- 公司名稱：
- 四川梓冠光電科技有限公司
簡介： SOI芯片光電探測器陣列，該產品基于硅基鍺-硅光電探測器，實現了多通道光電探測器的單片化集成，可片上集成光學混頻器，芯片尺寸小，集成度高，偏振相關性小，模......
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WD4000無圖晶圓膜厚檢測設備2025-05-11
- 所在地：
- 廣東深圳市
- 公司名稱：
- 深圳市中圖儀器股份有限公
簡介： WD4000無圖晶圓膜厚檢測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產......
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WD4000無圖晶圓幾何量測系統2025-05-11- 所在地：
- 廣東深圳市
- 公司名稱：
- 深圳市中圖儀器股份有限公
簡介： WD4000無圖晶圓幾何量測系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。基于白光干涉圖的光譜分析儀，通過數值七點相移算法計算，達到亞納......
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IsoChem半導體分析儀/半導體檢測2025-05-11
- 所在地：
- 北京北京市
- 公司名稱：
- 北京金恒祥儀器有限公司
簡介： 簡介：半導體生產依賴于清洗和蝕刻的酸和腐蝕.在這樣高挑戰性的行業中，減少操作成本是成功的關鍵.IsoChem過程系統可實時連續監測濃度并控制化學品使用量.使用LT......
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