菲希爾XULM240 X射線測厚儀

Fischer xulm 240 X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩定性，這樣顯著減少了校準儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固態和液態的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進行測量。

X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術規格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層(其中一層是合金)厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區域：測量點大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當Au厚度大于0.1μm時，有標準片校準情況下<±5%,無標準片校準情況下<±10%。

測量厚度精度=(測試10次的平均值-真值)÷真值×(真值為校驗標準片證書顯示值，測試點為同一點)

儀器波動率：COV<5% 。

COV=(S/10次平均值)×(其中S為標準偏差)