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半導體晶體生長測溫儀

2025-04-15

產      地:
德國
所在地區:
上海上海市
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IGAR 12-LO 半導體紅外測溫儀300°C 至 3300°C 數字化雙色紅外溫度傳感器

溫度范圍:300°C 至 3300°C 之間;

模擬輸出:0 至 20 mA 或 4 至 20 mA 可切換,負載 0 至 500 Ohm,測試電流 10 mA(按下測試鍵);

曝光時間極短;

光斑尺寸極小;

存儲值大。

12.png

核心優勢IGAR 12-LO

- 在高溫/高壓/電磁場等環境中,只放進一個測溫鏡頭,通過光纖傳輸光信號,可大程度的減少了環境的干擾項,保證測量的準確無誤

- 測溫范圍全覆蓋(300~2500℃)

- 高精度,可精確讀數到0.5%+1℃

- 極短的響應時間(2ms)

- 極小的光斑尺寸(最小為0.45mm)

- 光纖探頭耐溫高達250℃(Maurer為150℃)

- 診斷功能

- 雙色/單色、0/4-20mA、RS232/RS485均可切換

可解決問題

  • 還原爐應用中,需多點位測溫,有的點位位置較高對準目標比較困難。

  • 需透視窗測量反應物。建議使用近紅外短波測溫。

  • 直拉法應用中,一般集成于內部溫控系統,安裝空間有限。建議使用分體光纖式設備。

  • 升溫過程中,材料狀態可能發生變化,導致發射率隨之發生變化導致測溫失準。建議使用雙色測溫儀


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