以品質樹立品牌 南京芯測專注半導體測試設備
【化工儀器網 本站速遞】芯片的電路與各類印制板電路一樣,PCB在制作過程中不同廠家,不同生產設備,都存在生產差異,甚至存在瑕疵或者缺陷。然而,芯片電路相比PCB電路,可以認為是微觀電路,在制造過程中,采用了更加微觀的印制刻蝕技術,存在制造缺陷與瑕疵也是在所難免。因此,芯片測試十足重要,甚至能夠影響芯片最終的成品。
南京芯測軟件技術有限公司(以下簡稱:南京芯測)專注打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。目前南京芯測主要研發在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件,產品包括手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。南京芯測服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業。
GP2000探針臺
GP2000探針臺
GP2000探針臺可輕松實現DC ~ THZ測量,能夠提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。一臺機器即可適配垂直探卡、裂片后的藍膜或多Site芯片測試。并且具有多孔吸附式載物臺設計,更好地兼容薄晶圓固定。
產品特點:
1.高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統,可直觀了解扎針情況,提高扎針的準確性和效率;
2.可升級的高低溫系統,為芯片提供更 加成熟穩定的老化測試環境;
3.緊湊且可靠的機械設計 ,更適用于芯的測試及建模系統升級;
4.能夠根據未來需求,可提供多種升級 模塊,輕松實現功能升級;
5.短軸式拉桿設計,將更加符合新一 代芯片系統測試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定,將進一步防止誤操作,提高測試效率,節省成本。
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺
TS2000-IFE8英寸全自動RF|硅光|直流探針臺是一個自動化探針臺,可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。主要應用在負載拉動、RF、mmW、硅光子學、設計驗證(產品工程)或在定義的測試環境中測試MEMS和其他傳感器。
產品特點:
1. 集成電路設計驗證,在-60~300°C寬溫度范圍內的失效分析;
2.晶圓級可靠性擴展靈活性;
3.可編程顯微鏡運動,以更自動化和易于使用;
4.最大限度地減少毫米W和探測與主動探針的板到吸盤的距離;
5.簡單的晶片或單個DUT從前面加載;
6.完全集成Prober控制,能夠用于更快、更安全、更方便的系統和測試操作。
南京芯測的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟硬件的相當精良的供應商,以滿足國內用戶需求。在接下來的時間里,南京芯測也將繼續開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務,為用戶帶來更好的產品體驗。
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