NDA 500型X熒光光譜儀主要配置

?SDD硅漂移電制冷半導(dǎo)體探測器

?側(cè)窗鉬（Mo）靶管

?標(biāo)配16組復(fù)合濾光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器

?具有自動Mapping功能

?具備符合中國國家標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能

?內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線

?配置On-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺

?具備開放工作曲線技術(shù)平臺

?分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

NDA 500型X熒光光譜儀產(chǎn)品參數(shù)

?名稱：X熒光光譜儀

?型號：NDA500

?輸入電壓：220±5V/50Hz

?消耗功率：≤500W

?環(huán)境溫度：15-30℃

?環(huán)境濕度：≤80%（不結(jié)露）

?主機(jī)外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440

?樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120

?主機(jī)重量：約60公斤

技術(shù)指標(biāo)

?元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

?測量時(shí)間：

        對聚合物材料，典型測量時(shí)間為30秒

        對銅基體材料，典型測量時(shí)間為30秒

?檢出限指標(biāo)（LOD）：

        對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?精密度指標(biāo)，以連續(xù)測量7次的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ表征：

    對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?準(zhǔn)確度指標(biāo)，以系統(tǒng)偏差δ進(jìn)行表征

        對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg