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2025
05-26ICP-AES法測(cè)定鈣鋁合金中鐵、鋅、錳、鑭元素含量
ICP-AES法測(cè)定鈣鋁合金中鐵、鋅、錳、鑭元素含量鈣鋁合金一般為含鈣70%~75%,含鋁25%~30%,含鈣80%~85%和含鋁15%~20%和含鋁70%~75%含鈣25%~30%。鈣鋁合金廣泛應(yīng)用于鉛酸電池正極板柵的生產(chǎn),同時(shí)用于鋁、鈣復(fù)合脫氧以降低鋼中氧含量,還可以改善非金屬雜質(zhì)物。隨著鈣鋁合金應(yīng)用,鈣鋁合金需求企業(yè)對(duì)鈣鋁要求越來(lái)越高,截至目前,還未有鈣鋁合金雜質(zhì)元素檢測(cè)方法。因此,針對(duì)鈣鋁合金合金的廣泛應(yīng)用,需要一種雜質(zhì)元素的檢測(cè)方法,確定鈣鋁合金中元素含量。電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜2025
05-232025
05-22RoHS2.0鄰苯四項(xiàng)檢測(cè)儀的校準(zhǔn)與維護(hù)技巧分析
RoHS2.0指令對(duì)電子電氣產(chǎn)品中的鄰苯二甲酸酯類物質(zhì)提出了嚴(yán)格限制,而RoHS2.0鄰苯四項(xiàng)檢測(cè)儀是保障產(chǎn)品合規(guī)性的關(guān)鍵設(shè)備。為確保檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,科學(xué)的校準(zhǔn)與規(guī)范的維護(hù)至關(guān)重要。??一、校準(zhǔn)的重要性與操作技巧??校準(zhǔn)是保證檢測(cè)結(jié)果可靠的基礎(chǔ)。RoHS2.0鄰苯四項(xiàng)檢測(cè)儀通常采用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)定期校準(zhǔn),以修正儀器漂移或環(huán)境變化對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。校準(zhǔn)前需確保儀器運(yùn)行穩(wěn)定,且實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫濕度適宜,避免外界干擾。校準(zhǔn)過(guò)程中應(yīng)使用高純度的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行,確保每個(gè)檢測(cè)項(xiàng)目均覆蓋低2025
05-202025
05-15ROHS測(cè)試分析儀的常見(jiàn)故障及維護(hù)技巧
ROHS測(cè)試分析儀在電子電氣產(chǎn)品有害物質(zhì)檢測(cè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。然而,在使用過(guò)程中,儀器也可能會(huì)出現(xiàn)一些常見(jiàn)故障,了解這些故障及相應(yīng)的維護(hù)技巧對(duì)于保證儀器的正常運(yùn)行至關(guān)重要。信號(hào)不穩(wěn)定是ROHS測(cè)試分析儀常見(jiàn)的故障之一。這可能是由于儀器內(nèi)部的電路連接松動(dòng)或者外部干擾所導(dǎo)致。當(dāng)出現(xiàn)這種情況時(shí),首先要檢查儀器的電源連接是否穩(wěn)固,各個(gè)接口處的連接是否緊密。同時(shí),要注意避免儀器附近有強(qiáng)電磁干擾源,若有必要,可對(duì)儀器進(jìn)行屏蔽防護(hù)。測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確也是可能遇到的問(wèn)題。這往往與儀器的校準(zhǔn)有關(guān)。儀器需要定期進(jìn)行校2025
05-072025
04-102025
03-192025
03-15國(guó)產(chǎn)固定道 WDXRF 與進(jìn)口 WDXRF 在硅基材料分析中的對(duì)比與應(yīng)用推薦
國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF在硅基材料分析中的對(duì)比與應(yīng)用推薦波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WavelengthDispersiveX-rayFluorescence,WDXRF)是一種廣泛應(yīng)用于材料分析的技術(shù),尤其在硅基材料(如半導(dǎo)體、玻璃、硅片等)中具有重要作用。進(jìn)口WDXRF設(shè)備雖然在性能上表現(xiàn)優(yōu)異,但成本較高,而國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF近年來(lái)發(fā)展迅速,在許多應(yīng)用場(chǎng)景中已能滿足實(shí)際需求。本文通過(guò)對(duì)比國(guó)產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF,在硅基材料分析中的性能表現(xiàn),并結(jié)合實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),探討國(guó)產(chǎn)設(shè)備2025
03-13X射線熒光光譜儀原理及主要技術(shù)指標(biāo)對(duì)比
X射線熒光光譜儀原理及主要技術(shù)指標(biāo)對(duì)比X射線熒光光譜儀(簡(jiǎn)稱:XRF)X熒光光譜儀主要由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。其原理就是:X射線管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),來(lái)激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(又叫X熒光),并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長(zhǎng)。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)2025
02-12你了解RoHS2.0檢測(cè)儀的原理和特點(diǎn)嗎?
RoHS2.0檢測(cè)儀是根據(jù)歐盟RoHS指令(即《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》2.0版本)要求而設(shè)計(jì)的,用于檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品中的有害物質(zhì)含量,確保產(chǎn)品符合環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)。這些有害物質(zhì)主要包括鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等。RoHS2.0檢測(cè)儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法(GC-MS)等分析方法。X射線熒光光譜法(XRF):利用高能X射線激發(fā)樣品中的元素,使其產(chǎn)生特征熒光。通過(guò)測(cè)量這些熒光的強(qiáng)度,可以計(jì)算出樣品中各元素的含量。這種方法適2025
01-082024
12-102024
11-132024
10-23能量色散X熒光光譜儀的特點(diǎn)和使用注意事項(xiàng)
能量色散X熒光光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于材料分析、礦物識(shí)別、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域的高科技儀器。其基本原理基于X射線的量子特性,當(dāng)X射線入射到物質(zhì)時(shí),會(huì)與原子內(nèi)的電子相互作用,激發(fā)出額外的X射線,即熒光X射線。這些熒光X射線具有不同的能量,能量色散X熒光光譜儀正是利用這些發(fā)射出的X射線來(lái)進(jìn)行分析。主要特點(diǎn):1.高靈敏度:能夠檢測(cè)到極低濃度的元素,適用于痕量分析。2.高分辨率:能夠區(qū)分不同能量的X射線,從而精確分析樣品的成分。3.快速掃描:能夠在短時(shí)間內(nèi)完成樣品的掃描和分析,提高工作效率。4.多元素分析能力:2024
10-18揮發(fā)性有機(jī)物vocs監(jiān)測(cè)在工業(yè)排放控制中的關(guān)鍵作用
揮發(fā)性有機(jī)物vocs監(jiān)測(cè)不僅對(duì)人類健康構(gòu)成威脅,還會(huì)導(dǎo)致大氣光化學(xué)污染和氣候變化。因此,在工業(yè)排放控制中,VOCs監(jiān)測(cè)發(fā)揮著關(guān)鍵作用。一、危害及來(lái)源VOCs是指在常溫下易揮發(fā)的有機(jī)化合物,它們主要來(lái)源于工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的原料揮發(fā)、反應(yīng)副產(chǎn)物、設(shè)備泄漏等。VOCs在大氣中可與氮氧化物發(fā)生光化學(xué)反應(yīng),生成臭氧和二次有機(jī)氣溶膠,導(dǎo)致空氣質(zhì)量惡化。此外,還具有致癌、致畸、致突變等潛在健康風(fēng)險(xiǎn)。二、重要性評(píng)估污染狀況:通過(guò)揮發(fā)性有機(jī)物vocs監(jiān)測(cè),可以實(shí)時(shí)了解工業(yè)排放源的污染物排放情況,為制定合理的排放標(biāo)準(zhǔn)2024
10-11常見(jiàn)的重金屬成分分析儀檢測(cè)方法及其比較分析
重金屬污染已成為環(huán)境問(wèn)題,對(duì)人體健康和生態(tài)系統(tǒng)造成嚴(yán)重威脅。因此,準(zhǔn)確、快速地檢測(cè)重金屬含量顯得尤為重要。目前,常見(jiàn)的重金屬成分分析儀檢測(cè)方法主要包括原子吸收光譜法(AAS)、電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)、原子熒光光譜法(AFS)和紫外可見(jiàn)分光光度法(UV-Vis)。一、原子吸收光譜法(AAS)AAS是一種基于原子吸收特定波長(zhǎng)光的原理來(lái)測(cè)定元素含量的方法。該方法具有靈敏度高、選擇性好、精度高等優(yōu)點(diǎn),適用于多種重金屬元素的檢測(cè)。二、電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)ICP-MS是一種2024
09-13如何正確使用RoHS環(huán)保檢測(cè)儀進(jìn)行合規(guī)性測(cè)試
RoHS環(huán)保檢測(cè)儀是用于檢測(cè)電子電氣設(shè)備中是否含有鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等有害物質(zhì)的重要工具。為了確保其檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,以下是一些建議:1.定期校準(zhǔn)和維護(hù)定期對(duì)RoHS環(huán)保檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn),確保其測(cè)量系統(tǒng)處于較佳狀態(tài)。定期清潔儀器,防止灰塵、污垢等影響檢測(cè)精度。對(duì)關(guān)鍵部件進(jìn)行定期檢查和維護(hù),如傳感器、光源等。2.優(yōu)化檢測(cè)環(huán)境確保檢測(cè)環(huán)境穩(wěn)定,避免溫度、濕度等環(huán)境因素對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生影響。減少外部電磁干擾,如關(guān)閉附近的大功率電器設(shè)備。使用專用檢測(cè)場(chǎng)地,避免與其他化學(xué)物質(zhì)混合產(chǎn)生干擾2024
09-13鍍層測(cè)厚儀主要有哪些應(yīng)用領(lǐng)域?
XRF鍍層測(cè)厚儀通過(guò)向被測(cè)物體表面發(fā)射X射線,激發(fā)其表面元素產(chǎn)生熒光信號(hào),然后通過(guò)探測(cè)器收集反射回來(lái)的熒光信號(hào),經(jīng)過(guò)智能軟件算法推算出鍍層的厚度。這種原理的測(cè)厚儀具有測(cè)量精確、速度快、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn),特別適用于檢測(cè)難度大的微小樣品。鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,主要包括但不限于以下幾個(gè)方面:1.工業(yè)制造:用于測(cè)量各種金屬制品表面的鍍層厚度,如汽車(chē)零件、五金工具、機(jī)械設(shè)備等。2.建筑材料:用于測(cè)量建筑材料表面的涂層厚度,如防腐涂層、防水涂層、保溫涂層等。3.航空航天:在航空航天領(lǐng)域,鍍層測(cè)厚儀用于2024
09-06RoHS十項(xiàng)分析儀的操作與校準(zhǔn)指南
RoHS十項(xiàng)分析儀是一種專門(mén)用于檢測(cè)電子電氣產(chǎn)品中十種有害物質(zhì)含量的儀器,這些有害物質(zhì)包括鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚、鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)、鄰苯二甲酸苯基丁酯(BBP)和鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP)。以下是它的操作與校準(zhǔn)指南:一、操作步驟開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備:打開(kāi)分析儀的電源開(kāi)關(guān),等待儀器自檢完成并進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)。樣品準(zhǔn)備:根據(jù)測(cè)試要求,準(zhǔn)備好待測(cè)樣品。對(duì)于固體樣品,可能需要先做粉碎或溶解處理;對(duì)于液體樣品,需確保樣品均勻無(wú)雜質(zhì)。樣品加載:將準(zhǔn)以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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