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菲希爾電導率儀、SIGMASCOPE SMP350信息2025/04/28

菲希爾電導率儀SIGMASCOPESMP350核心特性菲希爾電導率測試儀憑借性能，可快速、無損且精確地測量有色金屬電導率，嚴格遵循DINEN2004-1與ASTME1004國際標準，確保測量數據的可靠性。配備適用于各類應用場景的專業電導率探頭，為不同測量需求提供精準適配方案。其中，菲希爾smp350型號更具技術亮點，依據探頭類型，能在15kHz至1MHz的寬頻范圍內，針對不同滲透深度靈活調整測量頻率，滿足多樣化檢測要求。該儀器具備先進的自動曲率補償功能，對于已知曲率直徑的樣品，最小可支持6mm直

菲希爾鐵素體儀FERITSCOPE FMP30產品信息2025/04/28

菲希爾FischerferitscopeFMP30鐵素體儀，憑借設計與強大功能，為用戶帶來高效便捷的測量體驗。操作流程極為簡便，開機后即刻進入測量狀態，極大節省時間成本。其配備的大尺寸顯示器，擁有240x160像素分辨率，高對比度顯示效果，即使在復雜環境下，測量數據也清晰易讀。設備設有USB接口，支持與PC或打印機快速連接，方便數據傳輸與打印，實現高效的數據管理。機械滑蓋設計，有效保護測量時無需使用的按鍵，減少意外觸碰，提升儀器使用壽命。FERITSCOPEFMP30支持外部觸發測量，既可以通過

美國激光干涉儀API技術發展信息2025/04/28

1.高精度測量能力在測量精度方面，API激光干涉儀表現出色。標準型號的激光干涉儀通常可提供0.5ppm（0.5μm/m）的檢測精度，而其XDLaser系列激光干涉儀更推出了高精度的0.2ppm（0.2μm/m）精密型型號，能夠輕松滿足對精度要求極為嚴苛的制造業及實驗室的檢測需求。這種超高精度確保了在精密機械加工、光學元件制造等領域，產品的尺寸精度和形位公差得到嚴格控制，從而提升產品質量和性能。2.高效快速測量檢測效率也是API激光干涉儀的一大優勢。以XDLaser6D型號為例，一次安裝即可同步檢

激光干涉儀API領域與特點信息2025/04/28

API激光干涉儀擁有豐富的產品系列，以滿足不同用戶的多樣化需求。其中，1D激光干涉儀主要用于測量定位誤差，為基礎的線性位移測量提供高精度數據支持；3D激光干涉儀則在此基礎上，能夠測量定位誤差以及直線度誤差（雙向），適用于對平面度和直線度要求較高的測量任務，如精密導軌的檢測；5D/6D激光干涉儀功能更為強大，除了定位誤差和直線度誤差測量外，還能同時測量偏擺角、俯仰角和滾動角，一次安裝便可全面獲取線性軸的多個誤差參數，極大提高了測量效率和全面性，在多軸聯動設備的校準中發揮著重要作用。機床校準與性能優

菲希爾X射線測厚儀分析信息2025/04/28

菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀基于X射線熒光分析原理。當儀器發射的X射線照射到樣品表面時，鍍層及基體材料中的原子會吸收X射線的能量，使內層電子被激發并躍遷到高能級。當這些電子回到低能級時，會釋放出具有特定能量的熒光X射線。不同元素發射的熒光X射線能量不同，通過檢測這些熒光X射線的能量和強度，結合儀器內置的校準曲線和算法，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。一）高精度測量菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀采用先進的探測器和信號處理技術，能夠實現對鍍層厚度的高精度測量。其測量精度可以達到微米甚至納米級別，能

為什么要選擇BYK4563光澤度儀2025/04/27

為什么要測量光澤度？質量控制與產品一致性光澤度是評價產品外觀質量的核心指標，尤其在汽車涂料、家具、塑料、金屬、印刷品等行業中。通過測量可確保同一批次產品光澤度的一致性，避免因表面處理差異導致的質量問題。例如，陶瓷地磚需控制光澤度范圍，過高易反光泄露隱私，過低則顯得低檔。客觀評估替代主觀判斷人眼對光澤的感知易受環境、角度及個體差異影響，存在主觀誤差。使用光澤度儀可提供標準化、可重復的數值化結果，消除主觀性。例如，BYK4563等儀器具備自動校準功能，確保測量精度。檢測表面缺陷與工藝問題光澤度異常可

菲希爾XUL210 X熒光射線測厚儀信息2025/04/27

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAY-XUL和XULM系列儀器是電鍍中快速測定涂層厚度的合適解決方案。在那里，大量樣品必須盡可能有效地通過質量控制。因此，XUL系列的設計使笨重的樣品能夠手動放置在測量室中。還可以選擇手動XY載物臺，方便小零件的精確對齊。該裝置前部的直觀控制面板進一步簡化了操作。FISCHERSCOPEX-RAYXUL系列允許測量直徑為0.5毫米的點。這使得堅固的儀器非常適合測量螺母、螺釘和其他電鍍表面。該儀器的許多常見應用是在防腐行業。連接器、觸點、電線和PCB

三豐粗糙度儀SJ-220新款產品信息2025/04/27

三豐小型表面粗糙度儀SJ-220是一款集眾多優點于一身的測量儀器。它在繼承SJ-210優點的基礎上，進行了升級，為用戶帶來新的粗糙度測量體驗。三豐便攜式粗糙度儀SJ-220身材小巧，便于攜帶和操作，無論是在實驗室還是在生產現場，都能輕松應對各種測量需求。其操作簡便，即使是沒有測量經驗的用戶，也能快速上手。該儀器配備了2.8英寸超大觸摸屏，操作更加直觀簡單。超大觸摸屏不僅顯示清晰，而且響應迅速，讓用戶能夠輕松設置測量參數、查看測量結果。此外，三豐SJ-220還新增了對ISO21920標準的支持，使

菲希爾鍍層測厚儀XULM240產品信息2025/04/27

菲希爾XULM240FISCHER代理核心測量性能菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm微區測量能力微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率多層與合金分析支持單層、雙層（含合金層）、三

菲希爾黃金鍍層測厚儀信息2025/04/27

菲希爾X射線GOLDSCOPESD特點緊湊耐用設計采用臺式設計，結構緊湊且堅固，適合長期使用，符合EN61010、DINISO3497和ASTMB568等國際標準。X射線熒光技術優化硬件和軟件專為黃金及貴金屬分析優化，采用X射線熒光（XRF）技術，無需樣品制備，實現無損、快速（典型測試時間5秒）且高精度分析。型號與探測器差異SD510/SD515：配備硅PIN探測器，適合快速檢測，適用于當鋪、黃金買賣和小型實驗室。SD520/SD550：配備硅漂移探測器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤

菲希爾鍍層測厚儀、鍍銀層測試儀信息2025/04/26

菲希爾FISCHERSCOPEX-RAYXDL220的典型應用包括以下領域：測量大規模生產的電鍍部件：如汽車零部件、電子接插件等，適用于質量控制場景。測量薄鍍層：例如裝飾性鍍鉻層（如首飾、衛浴配件），可精確檢測亞微米級厚度。功能性鍍層分析：在電子工業中測量金、鎳、錫等鍍層厚度，確保導電性和耐腐蝕性（如半導體封裝、PCB板鍍層）。全自動測量：通過馬達驅動的X-Y平臺和可編程Z軸，實現印刷線路板等復雜樣品的自動化批量檢測。電鍍溶液成分分析：直接檢測溶液中金屬離子濃度，優化電鍍工藝參數

菲希爾XDL230 鍍鎳層測厚儀信息2025/04/26

菲希爾XDL230主要技術指標：（標★為重要參數）1、FISCHER代理測量原理：X射線熒光光譜法測量鍍層厚度2、測量方式：無損檢測，可自動聚焦3、元素測量范圍:Cl（17）--U（92），zui多可測量24種元素23層鍍層。★4、手動X/Y平臺,移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm5、電動Z軸，手動/自動聚焦，可移動范圍≥140mm★6、FISCHERXDL230采用DCM（測量距離補償法）可遠距離對焦測量腔體樣品，可達80mm深度★7、滿足可變高壓30KV,40KV,

泰勒霍普森金屬表面粗糙度儀DUO信息2025/04/26

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO測量原理金剛石測針與驅動裝置采用耐磨的金剛石測針部件和精密機動驅動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時行進距離的準確性。壓電傳感與信號轉換當測針劃過表面波峰和波谷時，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機械運動轉換為電信號。數字化處理與參數計算電信號經數字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法（如ISO4287）即時計算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數。泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICDUO其他核心功能與技術特點藍牙無線通信驅動裝置與

粗糙度儀定義2025/04/21

表面粗糙度定義每個組件表面都有某種形式的紋理，這些紋理各不相同根據它的結構和制造方式。這些表面可以分為三大類：表面粗糙度、波紋度和形狀。為了預測組件在使用過程中或控制制造過程中的行為過程中，有必要量化這些表面特性。這是通過使用表面紋理參數來完成的。表面紋理參數可以分為三種基本類型：振幅、間距和混合。振幅參數。是垂直的度量表面偏差的特征。間距參數。是水平特性的度量表面偏差。混合參數。是spacing和振幅參數。平均線。均線是名義形式的最小二乘線擬合通過主截面，其中截面的面積高于和低于這條線相等并保

菲希爾XUL220 X射線測厚儀信息2025/04/21

一、菲希爾X射線產品簡介FISCHERSCOPEX-RAYXUL220是一款性能、設計緊湊且應用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。其核心優勢在于可對細小工件進行無損測量，精準檢測鍍層厚度并開展材料分析，尤其適用于質量管控、來料檢驗及生產過程控制等關鍵環節。在技術性能方面，儀器搭載的比例接收器能實現高計數率，為高精度測量提供有力支撐。與所有FISCHERSCOPEX-RAY系列儀器一樣，XUL220具備出色的準確性與長期穩定性，大幅降低儀器校準所需的時間與精力成本。此外，憑借FISCHER基本

FISCHERSCOPE MMS PC2菲希爾X射線測厚儀信息2025/04/21

一、菲希爾FISCHERSCOPEMMSPC2產品特性功能強大且耐用：作為堅固耐用的臺式儀器，兼具多功能測量系統屬性，支持測量數據的保存與處理。靈活應用設計：采用模塊化結構，搭配可交換式探頭，滿足多樣化測量需求。多種技術集成：整合振幅與相位敏感電渦流、磁感應、β射線等多種物理測量技術，適用性強。完善分析功能：具備全面的分析與統計功能，助力深度數據處理。操作便捷直觀：可通過大型內置觸摸屏，或使用鍵盤和鼠標進行便捷操作。適配自動化生產：配備多種接口，能夠輕松集成到自動化生產過程中。二、菲希爾FISC

DUALSCOPE MP0R產品消息2025/04/21

德國菲希爾DUALSCOPEMP0R涂層測厚儀：精準高效，多領域應用一、核心功能亮點一體化便捷設計：儀器集成探頭，操作流程大幅簡化，無需額外復雜組裝，即拿即用，為用戶帶來便捷的測量體驗。高精度保障：具備出色的重復精度，多次測量數據穩定可靠，有效減少測量誤差，確保測量結果的準確性。單手快速操作：創新的單手操作模式，將儀器輕放于工件表面，瞬間呈現測量讀數，極大提升工作效率。多方位可視界面：配備兩個背光液晶顯示屏，無論從哪個角度，甚至從儀器頂部，都能清晰讀取測量值，適應各種復雜測量環境。智能數據反饋：

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116產品消息2025/04/21

一、泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONICS116接口類型SurtronicS116表面粗糙度測量儀配備雙USB接口，通過行業標準A類型USB接口和迷你USB接口，為S-100系列測量儀提供多種連接選擇：A類型USB接口：可連接便攜式打印機（ESC/POS兼容），具體配件信息詳見“配件"頁；也可連接標準USB儲存裝置，用于儲存測量結果、初始數據或屏幕圖像。迷你USB接口：支持充電功能，適配任何標準USB充電器；同時可連接電腦，便于進一步開展數據分析與報告生成工作。二、泰勒霍普森粗糙度儀SURTRO

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215 X射線測厚儀信息2025/04/17

FISCHERSCOPEX-RAYXAN215是一款高性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，專為無損分析場景設計，尤其適用于珠寶、錢幣、貴金屬等領域的檢測需求。核心技術優勢多元素精準分析：可覆蓋從氯（17號元素）到鈾（92號元素）的廣泛元素范圍，最多可同時測定24種元素，精準解析貴金屬及其合金的成分構成。高效穩定性能：延續FISCHERSCOPEX-RAY系列的品質，具備初始高準確性與長期穩定性，大幅降低儀器校準所需的時間與人力成本。創新分析方法：采用先進的Si-PIN基本參數

菲希爾測厚儀X射線XDL210產品信息2025/04/16

菲希爾測厚儀X射線XDL210產品信息FISCHERSCOPEX-RAYXDL210是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，一起還能檢測大規模出產的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL210特別適用于客戶進行質量控制、進料查驗和生產流程監控。典型的應用領域有：?丈量大規模生產的電鍍部件?丈量超薄鍍層，例如：裝飾鉻?丈量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層?丈量印刷線路板?分析電鍍溶液XDL210有著杰出的長期穩定性，這樣就不需要經常